Testsysteme

Boundary Scan
Vor-/Nachteile

Vorteile: 
- Zugriff auf interne Knoten ohne physikalische Nadeln
 - Reduktion v. Prüfnadeln (Kosten, Scherkräfte, Limitation)
 - Shorts/Opens-Test an ICs ohne BE-Modell
 - standardisitert (Norm)
 - automatische TPG und Diagnose für Shorts/Opens/IC-Bestückung
 - On-Board Programmierung
 - Test von ICs ohne Backdriving
 - Einsatz für den gesamten Workflow
 - DFT-Regeln bereits bei Design
 - geringster ATE-Invest
 
Nachteile:
 - derzeit rein digitales Testverfahren
 - rein serieller/statischer Test
 - Verfügbarkeit, Boundary scan-fähiger IC
 - Test nur über BS-Zellen (meist nur Teil einer Schaltung)
 - gewisse Fehlerfreiheit notwendig
 - braucht BSDL-File (manchmal noch fehlerhaft)
 - 4-5 weitere IC-Pins

Diskussion